DEKTAK XT布魯克臺階儀/表面輪廓儀臺階儀主要用于材料表面的2D，3D測量，可以測試臺階高度，表面粗糙度；同時也適合材料表面溝槽深度的測試；能夠在微電子，半導體及化合物半導體，太陽能、超高亮度發光二極管（LED）、OLED、ITO、微流控、醫學、材料科學等行業實現納米級表面形貌測量。Dektak臺階儀測量薄膜材料可以達到埃級重現性和1nm-1mm的測量范圍。